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球面干涉仪
60mm口径激光球面干涉仪
产品型号:XQ6J-GI
特点:功能全面、操作简便且经济高效。此外,该仪器能够在同一平台上实现球面零件曲率半径R值和面形精度的测量,从而省去了制作标准样板的需求,并有效降低了生产成本。
用途
技术参数
XQ6J-GI型球面干涉仪主要用于精密光学平面和球面的面型测量、球面曲率半径测量、光学系统波前测量以及光学材料均匀性测量。是作为光学元件加工厂、光学仪器生产厂、高等院校、职工培训机构及计量单位必备的光学检测设备。
型号
XQ6J-GI
干涉原理
菲索型
口径
60mm
光源
半导体激光器(635nm)
光路切换
对准与测试切换
标准镜
F0.6 F0.7 F1.0 F1.4 F2.1 F2.8
F5.6 F8.1 F8.4D F15 F115 F145
标准镜头精度
λ/20(632.8nm)
电源
220V/50HZ
仪器尺寸
270*360*1100mm