60mm口径激光球面干涉仪

产品型号:XQ6J-GI

特点:功能全面、操作简便且经济高效。此外,该仪器能够在同一平台上实现球面零件曲率半径R值和面形精度的测量,从而省去了制作标准样板的需求,并有效降低了生产成本。

  • 用途
  • 技术参数
  • XQ6J-GI型球面干涉仪主要用于精密光学平面和球面的面型测量、球面曲率半径测量、光学系统波前测量以及光学材料均匀性测量。是作为光学元件加工厂、光学仪器生产厂、高等院校、职工培训机构及计量单位必备的光学检测设备。