XQ10J-GIV生产端立式干涉仪_上海星庆光学仪器有限公司

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XQ10J-GIV生产端立式干涉仪

产品型号:XQ10J-GIV

高效率、高精度；操作简单；

用途

技术参数

检测光学原件表面精度；
测量光学元件曲率半径；
检测光学材料均匀性