340mm立式激光平面干涉仪

产品型号:XQ34-GI

该设备采用大工作室移动检测方案,有效解决了大口径高精度平面加工过程中的在线检测难题。隐形布帘式围板设计实现了大批量生产车间中大口径工作盘的快速筛选测量。配备高分辨率摄像和显示系统,不仅减轻了操作人员的工作负担,还使检测过程更加直观便捷。简化结构在确保测量精度的前提下降低了制造成本,为中低精度生产厂家提供了非接触式的快速测量解决方案。

  • 用途
  • 技术参数
  • XQ34-GI型立式激光平面干涉仪适用于精密光学平面的平面度、微小角度及材料均匀性的测量。通过配置工作台,该仪器还可用于光学薄板波前误差的测量。